Schichtdickenbestimmung

Einrichtungen für zerstörungsfreie und zerstörende Schichtdickenbestimmungen stehen zur Verfügung:

Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung

  • von Cu-Schichten auf Leiterplatten
  • von Kunststoffen und Eloxalschichten auf unmagnetischem Grundwerkstoff
  • von galvanischen Schichten und Lackschichten auf Eisenwerkstoffen

Messmethoden

  • magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
  • magnetisch (DIN EN ISO 2178) mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
  • elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
  • Röntgenfluoreszenz (in Einzelfällen)

Zerstörende Schichtdickenmessung

Nach geeigneter Präparation der Probe wird diese unter dem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop betrachtet. Für die Auswertung wird in beiden Fällen eine PC gestützte Bildanalyse verwendet.

Dr.-Ing. Kerstin Kern

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung

+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch