Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung

• an Kunststoff- und Eloxalschichten auf unmagnetischem Grundwerkstoff
• an Metallisierungen, z.B. Kupferschichten auf Leiterplatten
• an galvanischen Schichten und Lackschichten auf Eisenwerkstoffen 

Messmethoden

• magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
• magnetisch (DIN EN ISO 2178) mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
• elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
• Röntgenabsorption (RFA)  

Zerstörende Schichtdickenmessung

• bei Einsatz- und Nitrierschichten
• bei galvanisch aufgewachsenen (Mehrfach-) Schichten
• bei Metallisierungen

Messmethoden

• Lichtmikroskopie
• Rasterelektronenmikroskopie

Ermittlung von Schicht-Zusammensetzung und -Phasenbestand

die chemische Zusammensetzung lässt sich bei den meisten Schichten bestimmen, die Bestimmung des Phasenbestands erfordert Kristallinität 

Messmethoden

• Lichtmikroskopie / Rasterelektronenmikroskopie
• Röntgenspektrometrie (RFA bzw. EDX im REM)

Bestimmung von Härte

• bei Einsatz- und Nitrierschichten bei Metallisierungen 

Messmethoden

• Vickers-Härteprüfung

Abbildung von Defekten in einer Beschichtung und an Grenzfläche

• bei Einsatz-, Nitrier- und Eloxal-Schichten (Spannungs- und Härterisse, Einschlüsse etc.)
• bei galvanischen Beschichtungen und Metallisierungen (Delaminationen)
• bei Schutzschichten (Korrosions- und Reaktionsprodukte, Ablösungen, Risse)
• bei Schweissungen (Bindefehler, Lunker, Risse)

Abbildungsmethoden

• Abbildungsmethoden
• Lichtmikroskopie (HF, DF, POL, DIC)
• Rasterelektronenmikroskopie (HV, VP)