Optical microscopy

Zeiss Axioskop 2 MAT research microscope

Magnification levels:
  • 25 / 50 / 100 / 200 / 500 / 1000x
Contrast method:
  • Brightfield / darkfield / polarisation in incident light and transmitted light mode
  • Differential interference contrast in reflected light mode Heating stage (RT up to 120°C)
Software:
  • Olympus analySIS-FIVE extended depth of field (z-stack) Quantitative image analysis

Dr.-Ing. Kerstin Kern

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung

+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch

Jan Allaart

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Experte für Schadensanalyse

+41 58 257 33 75 jan.allaart@ost.ch