Forschungsprojekt
Das Gerät ist in der Lage, die Stärke von Lack, galvanisierte Schichten wie z.B. Zink oder Chrom und sogar Eloxalschichten von Aluminiumlegierungen in einem Messbereich von 0 - 2500μm zu erfassen.
Das MMS® Inspection DFT ist ein Schweizer-Taschenmesser unter den Schichtdickenmessgeräten und wurde in enger Zusammenarbeit mit der Firma Helmut Fischer GmbH entwickelt.Der Fokus dieser Zusammenarbeit lag dabei in der Entwicklung einer innovativen Frontend-Elektronik und einer sehr effizienten Aufbereitung der Messwerte mittels Micro-Controller. Dieses stromsparende Konzept ermöglicht den dauerhaften Betrieb mit einer einfachen Batterie.
Kooperation:
IMES Institut für Mikroelektronik, Embedded Systems und SensorikProfessor für Mikroelektronik, Institutsleiter IMES
+41 58 257 45 84paul.zbinden@ost.ch
IMES Institut für Mikroelektrotechnik, Embedded Systems und Sensorik