Macroscopy

Stereomicroscope Zeiss SteREO Discovery V.20

Magnification levels:
  • stepless 3.75 - 75x and 7.5 - 150x
Contrast method:

Brightfield / darkfield / polarisation in transmitted and reflected light Software: Zeiss AxioVison extended depth of field (Z-stack)

Dr.-Ing. Kerstin Kern

IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung

+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch